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半导体芯片

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三箱式冷热冲击试验箱

发布日期:2020/5/16 15:38:21  点击次数:4554
三箱式冷热冲击试验箱用于温度骤变循环的试验系统。温度骤变循环试验是在生产阶段激发产品潜在缺陷显现的一种有效方式。

特点
试验区被测试物品完全静止
高温槽和低温槽开关阀根据指令智能输送温度至试验区
可选择始动,高温和低温位置开始循环
引线测试孔外加负载配线
采用触摸式彩色液晶显示控制器,操作简易
温度制御精度高,全部采PID自动演算制御
具有预约启动功能
可设定循环次数及自动除霜(可选配免除霜功能)
运转状态显示,具有异常故障显示及排除方法说明

设计+技术参数

型号

TYSTS-50

7YSTS-80

TYSTS-108

TYSTS-150

TYSTS-252

TYSTS-300

内箱尺寸(W*H*D)mm

360X350X400

500X400X400

600X400X450

600X500X500

700X600X600

1000X600X500

外形尺寸(W*H*D)mm

1370X2100X2100

1470X2130X2100

1570X1980X2150

1570X2030X2200

1670X2130X2450

2120X2130X2450

容积/L

50L

80L

108L

150L

252L

300L

高温预热范围

+ 60℃~+200℃

低温预冷范围

-10℃--70℃

高温冲击温度范围

+ 60℃~+150℃

低温冲击温度范围

0℃~-40℃; 0℃~-55℃; 0℃~-65℃ 可选

温度分布均匀度

≤ ± 2℃

预热区升温速率(空载)

3℃/min

预冷区降温速率(空载)

1℃/min

转换时间

<10S

温度解析度

0.01℃

温度波动度

≤ ±0.5℃

覆归时间

≤ 5min气动风门切换二区或三区测试)

结构

预冷区预热区测试区固定类型的物体测试,可选择 2 区或 3

气门装置

强制式空气装置气门

内箱材料

SUS#304不锈钢

外箱材料

SECC + 粉体涂装

测试栅盘

不锈钢网架

冷冻系统

二元式

通讯接口

RS485/USB

冷却方式

水冷式 Water cooling

电源

380VAC 3P + N 50HZ

符合标准

JESD22-A106B; GJB-150-A; MIL-STD-810G; MIL-STD-202G


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